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本文標題："AFM電子顯微鏡是可用來量測微,納米級微結構"
新聞來源：未知 發布時間：2013-4-22 0:58:47 本站主頁地址：http://m.zulinpingtai.cn
AFM電子顯微鏡是可用來量測微,納米級微結構
AFM是可用來量測微、奈米級微結構，但是當CD尺寸小于100 nm時，AFM探針之尖端與外形也是在這個尺度，
量測時，因AFM探針外形與奈米結構會有幾何外形干涉問題，無法確切量測出奈米結構形貌，造成量測尺寸的誤判。
量測時，以探針分別量測物體兩側形貌尺寸，兩側形貌之間距，減去已知探針之輪廓，則可估算出真實試片之輪廓形狀或線寬值，
本研究提出一種創新的半導體奈米結構量測方法，采用雙傾斜之AFM掃描量測，將兩次傾斜后之掃描影像，以影像疊合技術，
配合探針尖端尺寸修正，即可克服原本被干涉而無法量測區域轉變為可量測到的區域，以正確地量測出半導體CD尺寸，
應用于線寬量測的估算量測不確定度為3.18 nm。
100 nm以下線寬量測方法
量測100 nm以下線寬時，使用CNT(奈米探管)-AFM單向掃描二次方法，以AFM量測試片后，
得到掃描圖像，將試片旋轉180度，同樣再掃描一次后，以影像疊合技術將二次掃描結果組合，
便可得到待測件真實輪廓。此方法會碰到的問題為奈米工件非常細微，經旋轉180度后，很難再找到同樣位置進行量測，
會造影像疊合技術之組合誤差。
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