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本文標題："熒光實驗儀器簡介,專業微生物實驗熒光顯微鏡廠商"
新聞來源：未知 發布時間：2013-11-5 0:07:59 本站主頁地址：http://m.zulinpingtai.cn
熒光實驗儀器簡介,專業微生物實驗熒光顯微鏡廠商
微光激發光熒光光譜實驗裝置
本論文之微光激發熒光光譜（Micro-Photoluminescence，μ-PL）
可在4 K～300 K 的環境下進行，此系統為量測
和監控系統的結合，當虛線部份的鏡片組移入時，即成為監控系統，
移開時即成為量測系統。
首先我們將系統架設為監控系統，使用白光燈源，經反射鏡及分
光鏡（beam splitter）1 和2，由物鏡（Objective）聚焦打至樣品上，
反射光再由分光鏡打至電荷藕合元件(charge-coupled-device，CCD)
上，將訊號轉換在屏幕（monitor）上；同時再用激光光經分光鏡 1
和2 打至樣品，成像于屏幕上，確定激光光打至樣品的位置后，再將
監控系統上的分光鏡2 及反射鏡移開，以量測樣品熒光。激光光經物
鏡聚焦至約為1 微米（micrometer，μm）大小的光束，打至樣品上，
將樣品中之電子由價電帶激發至傳導帶，與電洞再結合而發出熒光。
熒光經分光儀分光后，直接由硅電荷藕合元件（Si-CCD）接收，將
光訊號轉換為電訊號再由電腦讀出。其所需要的元件如下：
1. 氦鎘激光（He-Cd Laser）：使用波長442 nm。
2. 物鏡：50 倍。
3. 分光儀：焦距長0.64 米。
4. 硅電荷藕合元件（Si-CCD）：適用范圍為0.3 ～ 1.1 μm
原子力顯微鏡（Atomic Force Microscopy，AFM）
原子力顯微鏡的方法是由G. Binning，CF Quate 和Ch. Gerber
在1986 年所提出的。其原理是利用針尖與樣品間的原子力作為量測
的機制。這里所謂的原子力包含了凡得瓦爾力（Van der Walls force）
與排斥力（repulsive force），
而原子力顯微鏡因受樣品及操作環境限制較少，
故為目前最被廣泛使用的掃描探針顯微術
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