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本文標題："使用光學顯微鏡觀察粗晶粒陶瓷材料結構特征"
新聞來源：未知 發布時間：2013-12-11 23:03:50 本站主頁地址：http://m.zulinpingtai.cn
使用光學顯微鏡觀察粗晶粒陶瓷結構
人們通常從宏觀及性能檢測上了解這些功能瓷的功能效應及性質。
然而利用顯微鏡可以直接看到材料內功能過程的發生及發展。
對于鐵電功能瓷，通過電疇觀察.這些過程可更清楚地顯示出來。
熱壓燒結制備的PLZT透明鐵電瓷，由于它為單相、無氣孔、高透明度、
相變溫度接近室溫、對外場(電場或應力)非常敏感，
因此它十分方便用于進行在外場作用下內部產生功能過程等的觀測，
但是普通光學顯微鏡放大倍數有限(例約400倍)，觀察普通陶瓷
(晶粒尺寸較細，約為2--6μm)分辨率不夠，為此應制備粗晶粒陶瓷
(例15 - 40μm)。另外，為了消除光學干擾，試樣應磨薄至一個晶粒厚度的薄片，
這樣在偏振光透光條件下進行觀察，
可消除由于光波透過多個晶粒所引起的光折射反射，從而使得在外電場作用下，
其光性變化可清楚地顯示出來。這項工作主要利用熱壓PLZT陶瓷粗晶粒單晶粒厚度
的薄片，在電場作用下進行功能過程的觀測。另外，由于晶界區具有高應變能，
因此在發生功能過程中，它常起能源作用，為此也進行試驗和討論
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