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本文標題："晶粒表面形成的特征分析用圖像顯微鏡廠商"
新聞來源：未知 發布時間：2014-1-28 20:41:10 本站主頁地址：http://m.zulinpingtai.cn
偏振光在各向同性金屬磨面上的反射
對于各向同性的金屬，由于各個方向光的性質是一致的，因此
不能使反射光的振動平面旋轉(w=O)。
此時，線偏振光在正交條件下反射光不能通過檢偏鏡，
即使把樣品原位旋轉360°也不能觀察到任何亮度變化。
若線偏振光垂直照射到磨面上就屬于上面說明的情況，
因為垂直照射時反射光也是線偏振光。如果線偏振光的
入射方向稍作傾斜，則反射光中垂直于入射面
(入射光與晶體表面法線組成的平面)振動的線偏振光和
平行于入射面的線偏振光存在一定的相位差，且振幅也不相等，
此時合成橢圓偏振光。橢圓偏振光的橢圓度取決于入射光
與晶體表面法線之間的角度，
利用這一現象可以分析各向同性但表面傾斜度各不相同的晶粒的形貌。
進行這類分析時，應對試樣的拋光表面進行深浸蝕，
使不同位向的晶粒表面形成傾斜程度不同的刻面。
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