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本文標題："X光光學元件能夠對影像作精確的放大-解析度高于光學鏡"
新聞來源：未知 發布時間：2014-6-29 6:47:42 本站主頁地址：http://m.zulinpingtai.cn
X光光學元件能夠對影像作精確的放大-解析度高于光學鏡
X光顯微成像原理各種類型的X光顯微術都是基于光子與凝聚態物質(軟的或
硬的)之間相互作用的不同作為期成像的機制。
兩種全景穿透式X光顯微術其取像方式都基于相同的原理：讓X光子束進入并
穿透目標物體后，然后由兩維探測儀器來接收穿過樣品后的X光。
兩種顯微技術唯一的差異在于其對穿透物體后(在轉換成可見光影像前)是否
對X光影像進一步放大。如欲取得高于光學顯微技術的解析度，適當的X光光
學元件能夠對X光影像作精確的放大，是唯一可行的方式。
因為樣品的內部各部分對X光光子之作用不同(受到其復數折射系數的控制)
造成穿過樣品后X光在垂直光進行方向平面的分布有所變化，分析這些變化
可了解樣品各部復數折射系數的分布進而了解物體內部的細微結構。從理論
上說，復數折射系數的實數部(也就是相位)和虛數部(吸收)在這一機制中都
有作用。然而在實際情形??中，除非X光束具備高同調性，否則折射系數的
實數部的影響并不明顯。
例如標準醫用X射線儀的光源多半來自典型的使用高壓電子束轟擊金屬陽極
板所產生，因其波長范圍寬，光源尺寸大，光束發散，因而都不具備同調特
質。
因此在標準的X光成像技術中，通常無法利用相位成像的效應。事實上迄今
為止，所有的醫用X射線診斷儀都是根據樣品不同部位間對X射線吸收的差異
所造成的影像對比來進行成像的。
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