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本文標題："雙光束顯微鏡的原理-雙折射技術在顯微的應用"
新聞來源：未知 發布時間：2014-10-30 17:54:12 本站主頁地址：http://m.zulinpingtai.cn
雙光束顯微鏡的原理-雙折射技術在顯微的應用
在這種儀器中，尋常光所成的象和非常光所成的象發生干涉，
光束通過雙折射晶體就可獲得尋常光與非常光.關于雙光束干涉
顯微鏡及其工作原理，我們已在本章開始時論遠過.一般講來，偏
振現象的利用，能夠做成結構簡單程差很小的干涉裝置，并且可以
給出非常純凈的色調.
第一架應用雙折射現象的干涉儀器把它應用在顯
微鏡上
在這種儀器中，被研究的物體放在兩塊方解石
或石英平板之間.這兩塊晶體平板實際上就是干涉裝置.所以，
干涉裝骨必需位于聚光鏡和物鏡之間，關于這一點正如列別杰夫
所指出的那樣，將因放大倍率不能很高而限制了儀器使用的可能
性，并且不能檢驗雙折射物體
它的優點是它能夠放在物體之后的任何位看.既然物體并不再位于
干涉裝股的內部，所以整個裝置可安插在目鏡內部.這就使得它與
顯微鏡的配合使用大為簡化，
并且能夠和觀察各向同性物體一樣有效地研究雙折射物體。
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