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本文標題："不同晶粒或晶塊尺寸測量多功能金相顯微鏡"
新聞來源：未知 發布時間：2014-12-25 16:14:54 本站主頁地址：http://m.zulinpingtai.cn
不同晶粒或晶塊尺寸測量多功能金相顯微鏡
樣品中的晶粒很細
關于微觀應力的測量
由于微觀應力的存在，使得不同晶粒或晶塊的點陣常數將
產生變化。當微觀應力使面間距大于正常的標準值時，
則其反射的布拉格將略微變小；反之，當微觀應力使面間距
小于正常的標準值時，布拉格角將稍微變大，這樣一來，
微觀應力引起了衍射線條在正常峰值左右擺動，底片上的線
條寬化，記錄紙上的衍射峰變得不尖銳，而成了圓禿的峰，
這就是樣品上由于微觀應力的存在而引起的線條寬化。
而當樣品中的晶粒很細時，某一晶粒參與同一布拉格角反
射的晶面數將減少，因此當X射線的入射角與布拉格角有微
小偏離時，由各原子面所反射的X射線合成后，也引起了衍
射線條的寬化。
透射法適用于極薄的試樣，反射法則適用于較厚的試樣，
而且兩者的晶粒只有足夠細時才能進行測量
，如果材料的晶粒特別粗大時，則只能采用勞厄法來測定。
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