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本文標題："利用干涉顯微鏡可以研究光學系統與光學零件的質量"
新聞來源：未知 發布時間：2015-9-17 17:26:40 本站主頁地址：http://m.zulinpingtai.cn
利用干涉顯微鏡可以研究光學系統與光學零件的質量
干涉圖樣與被研究的不均勻性問的單值關系的確定是以
某些假設為基礎的，首先是認為干涉儀的光學系統是理想
的，完全符合幾何光學的規律．其次是認為不均勻物體中的
光折射微乎其微．
當氣流速度接近甚至超過聲速時，氣流的干涉研究法是
有效的．在這些條件中，可壓縮性漸變為明顯并出現氣體密
度及其折射率的局部變化．
另一方法是用空氣動力學關系測定局部密度時的靜壓．
這時，或利用“偏移”干涉條紋，或利用“輪廓"干涉條紋
(適合于=度條件)獲得密度分布．這種輪廓千涉條紋是在
將干涉儀作干涉條紋無限寬調整時獲得的固定密度線．
只要將無氣流的干涉條紋系統疊加到具有氣流的相應干
涉條紋系統中，在偏移干涉條紋中亦同樣可獲固定密度線．
干涉條紋相移達180°的一段呈灰色斷續干涉條紋形狀(波紋
型)，是固定偏移線，因而也是固定密度線．條件有利時，
這些線的位置測定誤差可不超過1／20
衍射光柵式干涉儀還不只限于在氣體動力研究中廣泛使
用．利用這類千涉儀可以研究光學系統與光學零件的質量、
進行全息記錄和復現波前、測定長度量與角度量、研究生物
對象．這類干涉儀的主要優點是可以在寬廣的光譜范圍(包
括超高頻范圍)內工作，只不過由于缺乏優質透明光柵，現
暫未充分利用．
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