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本文標題："透鏡組將光束再聚集并再準直-光學檢測技術"
新聞來源：未知 發布時間：2017-9-18 21:28:48 本站主頁地址：http://m.zulinpingtai.cn
透鏡組將光束再聚集并再準直-光學檢測技術
光束檢測
馬赫一曾德爾干涉儀可用于檢測激光束的像差。通過一些“黑
盒子”系統可形成大致的平行光束，需測量這種輸入的平行光束的
像差。對于激光來說，這個黑盒子系統能夠被簡光束經過雙臂上相
同透鏡組的馬赫一曾德爾干涉儀，透鏡組將光束再聚集并再準直。
參考臂在兩透鏡組的共同焦點處有一個針孔以阻擋沒有準直的其他
光線。從參考臂出射的光束是一個無像差的平面波。測試光束的像
差保持不變。這兩束光相遇后形成一個含有被測光束像差信息的干
涉圖。干涉圖反映的實際上是測試光束里面的探測器靶面共軛的部
分。
所以一個橫向剪切干涉圖顯示的是沿著剪切方向的平均局部波
前斜率。有許多不同的橫向剪切干涉儀。在準直光束下默蒂平面平
板磺向剪切干涉儀是有用的，因為與平板厚度相比，準直光的時間
相干長度長。通過平板的厚度和傾斜度可控制剪切量的大小。通常
情況下，當被引入的傾斜方向與剪切量的方向正交而生成直條紋時
，光束即被準直。
對于橫向剪切的另一種常見方法是使用雙頻衍射光柵。放置在
透鏡焦點附近的光柵會形成兩條衍射光束。剪切量來自于具有微小
衍射角度之差的兩柬光，干涉圖最終體現的是局部傾斜的波前，并
非整個波前面型。
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