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本文標題："斜率誤差可直接測量得到或從干涉條紋中計算"
新聞來源：未知 發布時間：2018-5-26 1:54:27 本站主頁地址：http://m.zulinpingtai.cn
斜率誤差可直接測量得到或從干涉條紋中計算
斜率誤差直接取決于波陣面的形狀．而不是其相位。因
此，當TWF和RWF的值與波紋度的空間頻率無關時，斜率
誤差與波紋度空間頻率成正比。
斜率誤差可以直接測量得到或從干涉條紋中計算出來。
斜率直接測量法對相位不敏感，但比采用干涉測量法更快
捷、更便宜。
系統誤差的評測相對簡單，因為
每個因素的誤差貢獻可以通過和方根(RSS)方法進行分配。
傳統的全口徑光學制造方法產生較少的波紋度，這導致
子孔徑的加工方法也相當有保證．如磁流變拋光(MRF)、射
流拋光、柔性拋光或單點金剛石車削。由于這些加工設備的
使用越來越普遍，斜率測量儀器也廣為人知，非球面偏離量
也在增加，我們期望在車間能有更多斜率公差可供參考。
空間頻率帶寬的選擇是相對的，它必須始終與測量儀器
的測量能力相匹配。
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