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本文標(biāo)題："量測(cè)非金屬亮面的的樣品表面凹陷處"
新聞來源：未知 發(fā)布時(shí)間：2011-12-1 0:00:37 本站主頁地址：http://m.zulinpingtai.cn
目前在光學(xué)設(shè)計(jì)面臨一個(gè)大問題
以前我在量測(cè)非金屬亮面的的樣品表面凹陷處的深度時(shí)
可以用傳統(tǒng)的phase-shift interferometry方法
但是針對(duì)金屬亮面的表面凹陷深度量測(cè)時(shí)
因?yàn)榉瓷鋎ominate，所以無法計(jì)算深度
人家說用白光干涉顯微鏡可以量
但是它只能一次量一個(gè)位置
我想要量大面積且有數(shù)百個(gè)點(diǎn)要量
不知道有沒有什么樣的光學(xué)設(shè)計(jì)可以實(shí)現(xiàn)？
或者是有沒有把白光干涉顯微鏡變成2D scan的方式
可以掃大面積的？
回覆：
白光干涉顯微鏡是掃整面的......
現(xiàn)在的型號(hào)還有3d顯示圖.最大深度.平均深度和方均根深度值
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