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本文標(biāo)題："CCD或是測量投影儀都有光學(xué)極限-光學(xué)設(shè)計"
新聞來源：未知 發(fā)布時間：2013-5-31 0:28:11 本站主頁地址：http://m.zulinpingtai.cn
CCD或是測量投影儀都有光學(xué)極限-光學(xué)設(shè)計
針對複合條紋投影法
首先在設(shè)計複合式結(jié)構(gòu)光時，必須考量投影儀所能投影與CCD所能擷取的最小週期條紋影像，
即使電腦能產(chǎn)生細(xì)微的條紋資訊，但是不論是CCD或是投影儀都有所謂的光學(xué)極限，
一但超過了極限，
這對于之后的演算法都將無效。
第二在于當(dāng)我們擷取到影像后，將資訊由空間域轉(zhuǎn)換至頻率域，
必須對我們所需要的資訊進行萃取，但是此步驟卻衍生許多實行上的困難，在有物體情況下的條紋資訊，
根據(jù)物體的輪廓將有很大的不同，而且條紋本身交互疊合的情況下，使得頻率域的萃取工作也是很大的難題，
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