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本文標題："石墨烯質量檢測光學顯微鏡-光學顯微鏡下即可成像"
新聞來源：未知 發布時間：2014-1-12 1:38:31 本站主頁地址：http://m.zulinpingtai.cn
石墨烯質量檢測光學顯微鏡-光學顯微鏡下即可成像
雖然石墨烯僅一個原子層厚，但在光學顯微鏡下即可成像。
事實上.石墨烯最初被發現時就是在普通的光學顯微鏡下被分辨出來的
方法也比較簡單。例如.采用機械剝離法將石墨烯轉移到表面有一定厚
度級化層的硅片上，就可以直接在光學顯微鏡下進行觀察。
可以看到大量的石墨碎片，尺寸、形狀、顏色和對比度各異。其中，
顏色和對比度與石墨烯的厚度(層數)密切相關。
需要指出的是，在一般的硅片基底上，在光學顯微鏡下是無法
觀測到石墨烯的。氧化硅層的厚度對石扭烯的光學成像尤為重要。
當氧化層的厚度滿足條件時，由于光路衍射和干涉效應而導致顏色變化，
石墨烯會顯示出特有的顏色和對比度。
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