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本文標題："金屬單晶電解質溶液顆粒光學顯微鏡"
新聞來源：未知 發布時間：2014-5-21 23:03:54 本站主頁地址：http://m.zulinpingtai.cn
金屬單晶電解質溶液顆粒光學顯微鏡
掃描隧道顯微鏡
這種局域技術靠的是針尖和底物之間通過的隧道電流.由于
要穿過隧道，針尖與底物的距離必須小于2nm，當針尖更近時，電
流值顯著增加。因此針尖本身也必須是原子尺寸的。針尖材料通
常經過刻蝕，用作針尖的材料有鎢，鉑/鍺或鉑/銥合金。產生這種
現象的原因主要是底物和針尖的電子云相互交疊，嚴格地講，被掃
描的是底物的電子云密度的形貌而不是原子的形貌。
一般說來，所加的隧道電流是恒定的，相應地針尖的高度是可
調的，因此得到形貌圖。改變針尖/底物的偏壓并記錄每一偏壓下
的形貌。由于記錄的是電子密度，它隨著正、負偏壓的改變而變化，
得到譜圖信息，這稱為電流成像隧道譜(CITS )。然而在此方面的
探索還很少。
最初的大量工作都是于真空條件下在半導體和金屬單晶上完
成的。實驗結果證實了表面重組和吸附在底物上的物質的存在。
這種研究也能用在電解質溶液中，它需要用底物作工作電極。
因此可以實時地記錄成核過程和新相的形成。例如在低于沉積電
勢下表面腐蝕和一般意義上的吸附。唯一的局限性是底物必須是
導體或良好的半導體
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