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本文標題："電子顯微鏡的焦距較大,光學顯微鏡不能達到的"
新聞來源：未知 發(fā)布時間：2014-5-21 23:06:02 本站主頁地址：http://m.zulinpingtai.cn
電子顯微鏡的焦距較大,光學顯微鏡不能達到的
原子力顯微鏡(AFM)
STM的主要局限是不能使用絕緣體底物。但是在能產(chǎn)生隧道
電流的距離上，針尖和底物的原子之間存在著引力和斥力，與底物
的導電和絕緣性質(zhì)無關。為了測量原子間的作用力，針尖安裝在一
個軟懸臂彈簧的末端，用干涉法或光束偏轉(zhuǎn)監(jiān)測光的偏轉(zhuǎn)。懸臂彈
簧技術是用微加工技術把硅、二氧化硅或四氧化硅經(jīng)光剖蝕后制
成的，長約100μm，厚度1μm，在一端粘上一個微小的金剛石針
尖。
AFM的效果通常不如STM好，但是聚合物的形成、絕緣體
表面上的蛋白質(zhì)吸附，陽極氧化物膜的腐蝕均可用這種辦法進行
研究。
掃描電化學顯微鏡((SECM )
掃描電化學顯微鏡的目的是克服STM和AFM的針尖對底
物鑒別和化學組成缺少靈敏性和選擇性的缺點。為做到這一點，在
電化學電池中，把針尖和底物做為獨立的工作電極。當然還要有輔
助電極和參比電極。針尖是金屬微電極，只是針尖是有活性的(通
常金屬線在玻璃殼內(nèi))，在含有電化學活性物質(zhì)的電解質(zhì)溶液中，
電子顯微鏡最常用的是掃描電子顯微鏡((SEM )，現(xiàn)已成為應
用廣泛的工具，在真空條件下檢測表面形態(tài)，也用于檢側(cè)與電化學
有關的電極表面和被腐蝕的表面的形態(tài)。該儀器也能進行化學顯
微分析。
為什么我們使用電子顯微鏡而不用光學顯微鏡去獲得形貌圖
象，
它幾乎達到原子級分辨率。另一個
原因是，在電子顯微鏡和光學顯微鏡交疊區(qū)域內(nèi)，電子顯微鏡的焦
距很大，這是光學顯微鏡不能達到的。
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