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本文標題："用于研究晶片、小晶體和組件用復合式金相顯微鏡"
新聞來源：未知 發布時間：2014-8-20 12:45:22 本站主頁地址：http://m.zulinpingtai.cn
用于研究晶片、小晶體和組件用復合式金相顯微鏡
·在晶體管和集成電路上的溫度變化也可以采用適當的掃描系
統和檢測器以及把物體本身作為熱輻射源來產生“圖象”.這種圖
象或熱輪廓線在新產品設計工作中對于確定易出事的麻煩地點和
電流集中部位都是最有幫助的
最可能遇到的攝影術是顯微攝影術，即借助于一臺復合顯微
鏡攝取高放大倍數的照片.對于研究晶片、小晶體和組件來說，放
大50倍左右是非常有用的.這種放大范圍的技巧同常規的特寫
攝影術相似，由此產生宏觀攝影術.后者并不使用組合的顯微鏡
來形成象，而如同常規攝影術那樣只依靠單只透鏡.
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