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本文標題："研究顯微變形的光干涉測量法- 干涉顯微鏡的作用"
新聞來源：未知 發布時間：2014-4-18 12:51:17 本站主頁地址：http://m.zulinpingtai.cn
研究顯微變形的光干涉測量法- 干涉顯微鏡的作用
研究顯微變形的光干涉測量法
光干涉測量法通常分為點的和立體的（全息照相）兩種。用第一種
方法可以進行一個點上的探測，而用第二種方法，則無論被研究物體有
多么復雜，都可以同時觀察物體整個被研究的表面或整個物體。
在點干涉測量法中，利用兩束精確疊加的光路，因為這里的干涉圖
象出現，只是在對同時存在的兩條光程圖象進行比較而來的。
各種點干涉測蛋法實際上都是利用邁克爾遜干涉儀或其變形產品的
原理為葵礎，其結果是兩束相干的平面光波的疊加而產生干涉，所以各
種光學元件都應當是高質量的。
被研究的物體表面的本身在某種程度上也是干涉儀系統中的光學元
件，所以這個表而應當是光學平面，而且要拋光成鏡面。
這里探討一下全息照像的物理原理和它與普通照像的區別。
普通照像一般在白色光（非單色光和非相干光）下，光學（透鏡）
系統將三維物休拍攝在照像底版平面上。這樣，物體的像就失去了
立體性質，不能從像片各個方向觀察物體，所以在像片上沒有位移視差
效應。
在照片底版喪面的每個部位上，只能拍攝物體一定部位的像。所以，
在一張底片上無法拍攝幾個物體的像，因為一個像要干擾另一個像。像
的照度決定于在單位時間內照射在底版每個部位單位面積上光的能量。
此時不考慮物體反射的光波相位，因為它們是分布在像的平面上的。
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